簡要描述│₪↟:LIBS-INSIGHT 是為固體材料的微區分析而設計的儀器│◕↟。開啟1級鐳射安全防護╃▩╃,將待測樣品放在測試平臺上╃▩╃,再將樣品位置調整到影片觀察區域╃▩╃,關閉樣品室防護罩│◕↟。可以透過軟體看到目標區域的高畫質影象╃▩╃,由軟體控制電動位移平臺╃▩╃,實時地調節樣品位置│◕↟。設定單點╃▩╃,多點╃▩╃,點陣列╃▩╃,或者一組任意位置點進行分析╃▩╃,隨後點選按鈕“GO"╃▩╃,LIBS-INSIGHT即可完成包括移動樣品╃▩╃,發射鐳射╃▩╃,操作光譜儀╃▩╃,實時顯示光譜等一系
產品型號│₪↟: LIBS-INSIGHT
所屬分類│₪↟:光譜儀
更新時間│₪↟:2021-09-06
產品名稱│₪↟:LIBS-INSIGHT 元素分析儀
產品簡介│₪↟:
創新點:
LIBS-INSIGHT 是為固體材料的微區分析而設計的儀器│◕↟。開啟1級鐳射安全防護╃▩╃,將待測樣品放在測試平臺上╃▩╃,再將樣品位置調整到影片觀察區域╃▩╃,關閉樣品室防護罩│◕↟。可以透過軟體看到目標區域的高畫質影象╃▩╃,由軟體控制電動位移平臺╃▩╃,實時地調節樣品位置│◕↟。設定單點╃▩╃,多點╃▩╃,點陣列╃▩╃,或者一組任意位置點進行分析╃▩╃,隨後點選按鈕“GO"╃▩╃,LIBS-INSIGHT即可完成包括移動樣品╃▩╃,發射鐳射╃▩╃,操作光譜儀╃▩╃,實時顯示光譜等一系列動作│◕↟。
addLIBS™軟體是與LIBS-INSIGHT一同開發╃▩╃,簡單易用的等離子體發射光譜分析軟體│◕↟。addLIBS™可以基於NIST或者內建光譜庫╃▩╃,採用標樣校正以及手動校正等方法對光譜進行分析╃▩╃,一旦建立好分析方法╃▩╃,它將可以重複地用於進一步的分析╃▩╃,或者可以進行修改│◕↟。標準的線性迴歸以及多項式擬合算法都可以用與資料建模│◕↟。
詳細資訊
LIBS-INSIGHT 元素分析儀的優勢│₪↟:無需製備樣品╃▩╃,簡單靈敏的分析工具
簡單│₪↟:
LIBS-INSIGHT 是為固體材料的微區分析而設計的儀器│◕↟。開啟1級鐳射安全防護╃▩╃,將待測樣品放在測試平臺上╃▩╃,再將樣品位置調整到影片觀察區域╃▩╃,關閉樣品室防護罩│◕↟。您可以透過軟體看到目標區域的高畫質影象╃▩╃,由軟體控制電動位移平臺╃▩╃,實時地調節樣品位置│◕↟。設定單點╃▩╃,多點╃▩╃,點陣列╃▩╃,或者一組任意位置點進行分析╃▩╃,隨後點選按鈕“GO"╃▩╃,LIBS-INSIGHT即可完成包括移動樣品╃▩╃,發射鐳射╃▩╃,操作光譜儀╃▩╃,實時顯示光譜等一系列動作│◕↟。
高靈敏:
LIBS-INSIGHT內建了海洋光學寬波段光譜儀╃▩╃,提供在190-960nm波長範圍內優秀的解析度(優於0.1nm)│◕↟。右圖中為顯示了一幅在寶石表面測到的LIBS元素光譜│◕↟。LIBS技術可以同時檢測主要和次要的元素│◕↟。內建的14000+畫素探測器╃▩╃,可以輕易解析在紫外波段小於0.5nmFWHM的元素譜線│◕↟。
分析│₪↟:
addLIBS™軟體是與LIBS-INSIGHT一同開發╃▩╃,簡單易用的等離子體發射光譜分析軟體│◕↟。addLIBS™可以基於NIST或者內建光譜庫╃▩╃,採用標樣校正以及手動校正等方法對光譜進行分析╃▩╃,一旦建立好分析方法╃▩╃,它將可以重複地用於進一步的分析╃▩╃,或者可以進行修改│◕↟。標準的線性迴歸以及多項式擬合算法都可以用與資料建模│◕↟。
對於更加複雜的資料╃▩╃,可以應用諸如PLS這樣的化學計量學方法進行分析│◕↟。資料也可以匯出到標準的分析軟體╃▩╃,例如GRAMS™ 或者Excel™╃▩╃,光譜資料也可以自動地從光譜儀操作軟體匯入到addLIBS™軟體中│◕↟。
系統指標│₪↟:
耐用的鐳射器╃▩╃,高靈敏度光譜儀
內建同步觸發電路系統
成像系統可提高測試的重複性
同步訊號抖動小於10ns
可充氣樣品室
一級鐳射安全防護
可配置│₪↟:
可調樣品室照明光源
調鐳射能量
可調光譜儀延時量
可調整激發點尺寸
易用性│₪↟:
整合樣品臺
鐳射能量監測/顯示
使用者可選擇重複頻率
單點₪☁·₪✘、多點激發模式
彩色顯示系統
可選電腦控制XY位移臺
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